紅外熱像儀中的探測器接收到的不是物體的真實溫度，而是輻射溫度。輻射溫度雖然經過了大氣傳輸因子等的修正，但它與物體表面的真實溫度之間仍存在一定的差異。只有知道物體的另一參數—材料發射率，才能求出物體的真實溫度。實際測溫過程中的影響因素包括發射率、光路上的散射與吸收、背景噪聲、紅外熱像儀的(de)穩定性等因素。隨測量條件不(bu)同這些因素的(de)影響程度也不(bu)同，必須進行準(zhun)確地(di)校(xiao)準(zhun)以(yi)保證測量的(de)可靠(kao)性。

發射率

發(fa)射率是影(ying)響紅外(wai)熱(re)像(xiang)儀(yi)測溫精度的(de)(de)(de)最大不確(que)定因素(su)。要想(xiang)得到(dao)物(wu)體(ti)的(de)(de)(de)真實溫度，必須精確(que)的(de)(de)(de)設定物(wu)體(ti)的(de)(de)(de)發(fa)射率值(zhi)。而(er)發(fa)射率又受到(dao)材料性質、表面狀態和溫度等因素(su)的(de)(de)(de)影(ying)響。

材料(liao)(liao)性(xing)(xing)質(zhi)不(bu)(bu)僅包括(kuo)材料(liao)(liao)的(de)化學組(zu)分和化學性(xing)(xing)質(zhi)的(de)差(cha)異，還(huan)包括(kuo)材料(liao)(liao)的(de)內部(bu)結構(gou)(如表(biao)面(mian)層結構(gou)和結晶狀態(tai)等)和物理性(xing)(xing)質(zhi)的(de)差(cha)異。材料(liao)(liao)的(de)性(xing)(xing)質(zhi)不(bu)(bu)同，材料(liao)(liao)的(de)發射性(xing)(xing)能、輻射的(de)吸收(shou)或透(tou)射性(xing)(xing)能都不(bu)(bu)同。絕大多數非(fei)金屬(shu)材料(liao)(liao)紅外光譜區的(de)發射率都比較高，而絕大多數純金屬(shu)表(biao)面(mian)的(de)發射率都很低(di)(di)。當溫度低(di)(di)于300K時，金屬(shu)氧化物的(de)發射率一般都會(hui)超過0.8。

表面狀態(tai)的(de)影(ying)(ying)(ying)響(xiang)為任何實際物(wu)體(ti)都有不(bu)同的(de)表面粗糙度(du)，總會表現(xian)為凹凸不(bu)平的(de)不(bu)規則形(xing)貌，沒有絕(jue)對光滑的(de)物(wu)體(ti)表面。不(bu)同的(de)表面形(xing)態(tai)首(shou)先(xian)影(ying)(ying)(ying)響(xiang)到(dao)反射率，從而(er)影(ying)(ying)(ying)響(xiang)到(dao)發(fa)射率。材料的(de)種類和粗糙的(de)程(cheng)度(du)直接影(ying)(ying)(ying)響(xiang)到(dao)發(fa)射率。

溫(wen)(wen)度(du)和發射率(lv)的關(guan)系(xi)很難用統一(yi)的分析(xi)表達式做定量的概括(kuo)，因為(wei)不同材料在(zai)不同波長(chang)和溫(wen)(wen)度(du)范圍內發射率(lv)的變(bian)化也不一(yi)樣，雖然很多(duo)情況下認為(wei)發射率(lv)隨(sui)溫(wen)(wen)度(du)變(bian)化，但(dan)發射率(lv)到底隨(sui)溫(wen)(wen)度(du)怎(zen)樣變(bian)化卻沒有指(zhi)明。一(yi)般實驗表明，絕大(da)多(duo)數(shu)純金屬材料的發射率(lv)近(jin)似隨(sui)開氏溫(wen)(wen)度(du)成(cheng)比例(li)增(zeng)大(da)，但(dan)比例(li)系(xi)數(shu)卻與金屬電阻率(lv)有關(guan)；絕大(da)多(duo)數(shu)非(fei)金屬材料的發射率(lv)隨(sui)溫(wen)(wen)度(du)的升高而減(jian)小。

背景噪聲的影響

利用(yong)紅外熱像(xiang)儀進(jin)行(xing)輻射溫(wen)(wen)(wen)度(du)測(ce)(ce)量(liang)時，由于信(xin)號非常小，往(wang)往(wang)被背景噪(zao)聲(sheng)淹沒。所以常溫(wen)(wen)(wen)以下的(de)(de)(de)(de)溫(wen)(wen)(wen)度(du)測(ce)(ce)量(liang)必(bi)須考(kao)慮背景噪(zao)聲(sheng)的(de)(de)(de)(de)影響(xiang)(xiang)(xiang)，因其受背景噪(zao)聲(sheng)的(de)(de)(de)(de)影響(xiang)(xiang)(xiang)非常大。室內測(ce)(ce)量(liang)時，周圍高溫(wen)(wen)(wen)物體等的(de)(de)(de)(de)反(fan)射光(guang)也會影響(xiang)(xiang)(xiang)待測(ce)(ce)物體溫(wen)(wen)(wen)度(du)的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)量(liang)結果；室外主要的(de)(de)(de)(de)背景噪(zao)聲(sheng)是陽光(guang)的(de)(de)(de)(de)直接輻射、折(zhe)射和空(kong)間散射。因此在測(ce)(ce)溫(wen)(wen)(wen)時必(bi)須考(kao)慮各種影響(xiang)(xiang)(xiang)因素，采(cai)取的(de)(de)(de)(de)基本對策如下：

(1)在(zai)待測(ce)物體附近(jin)設(she)置屏蔽物，以減少(shao)外界環境的干擾。

(2)準(zhun)確(que)對準(zhun)焦(jiao)距，防止非待測物體的輻(fu)射能(neng)進入測試角。

(3)室(shi)外(wai)測量時，選擇晚上或有云(yun)天氣以排(pai)除日光的影響(xiang)。

(4)通過制作小孔或采用高發(fa)射率(lv)的(de)涂料等方法使(shi)發(fa)射率(lv)提高，使(shi)之(zhi)接近于1。

光路上的吸收的影響

空(kong)氣中的(de)水、二氧化碳、臭氧、一氧化碳等均吸(xi)收紅外線。根據(ju)儀器自身的(de)適(shi)應性和實(shi)際的(de)工作環境，主(zhu)要考慮(lv)水蒸汽對(dui)(dui)測(ce)溫(wen)精度(du)的(de)影(ying)響。在(zai)風力較大的(de)情況下，會使被測(ce)物體(ti)溫(wen)度(du)下降。由于受到風速冷卻對(dui)(dui)流的(de)影(ying)響，也(ye)會影(ying)響到測(ce)溫(wen)的(de)精度(du)，瑞典國家(jia)電力局定義了風力影(ying)響的(de)修(xiu)正公式。

熱像儀的穩定性的影響

實際測溫(wen)(wen)時(shi)，紅(hong)外熱像(xiang)儀與(yu)其它儀器(qi)(qi)不(bu)同，在(zai)很大程度(du)(du)(du)上受環(huan)境溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)的(de)影(ying)響(xiang)較(jiao)大。當(dang)待(dai)測溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)低于(yu)常溫(wen)(wen)時(shi)，由于(yu)紅(hong)外透(tou)鏡(jing)自身存(cun)在(zai)一些(xie)不(bu)可避(bi)免的(de)影(ying)響(xiang)因素(su)，使得環(huan)境溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)變化(hua)的(de)影(ying)響(xiang)甚至大于(yu)信(xin)號變化(hua)的(de)影(ying)響(xiang)。盡管儀器(qi)(qi)設計中(zhong)采取了某種補償(chang)措施，但當(dang)環(huan)境溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)高于(yu)規定值時(shi)，使用儀器(qi)(qi)時(shi)必須冷卻儀器(qi)(qi)，使之(zhi)維持恒定的(de)溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)。

對熱像儀本身所發出輻射的補償

一個設計完好的熱像儀對于來自熱像儀本身及其光學元器件的輻射能夠自動補償，但是，很少有熱像儀能夠恰當地補償。因此，被測目標的溫度依賴于熱像儀的溫度。由于非100%反射(she)(she)或透射(she)(she)，因此(ci)對于熱像(xiang)儀本身(shen)的輻射(she)(she)主要由光學元件(如平面鏡、透鏡)對輻射(she)(she)的衰(shuai)減產(chan)生(sheng)。