紅外熱像儀技(ji)術(shu)在電氣開關(guan)站和IC芯片的應(ying)用(yong)

眾(zhong)所周知(zhi)，紅外(wai)熱(re)(re)像(xiang)(xiang)儀技術(shu)(shu)是通過使(shi)用(yong)非接(jie)觸式(shi)紅外(wai)熱(re)(re)像(xiang)(xiang)儀設(she)備來(lai)獲取和(he)分(fen)析熱(re)(re)信息的科學。它的獨(du)特優勢是：非接(jie)觸式(shi)，實(shi)時和(he)二維(wei)圖(tu)像(xiang)(xiang)。紅外(wai)熱(re)(re)像(xiang)(xiang)儀可以(yi)分(fen)為(wei)兩種成像(xiang)(xiang)方式(shi)，分(fen)別為(wei)主動熱(re)(re)像(xiang)(xiang)儀技術(shu)(shu)和(he)被動式(shi)熱(re)(re)像(xiang)(xiang)儀技術(shu)(shu)。紅外(wai)熱(re)(re)像(xiang)(xiang)儀可以(yi)用(yong)于電(dian)氣開關站測(ce)溫和(he)芯(xin)片測(ce)溫，用(yong)于查找熱(re)(re)點(dian)以(yi)及潛(qian)在的故障地(di)點(dian)。

電(dian)氣(qi)開(kai)關站是(shi)(shi)(shi)發(fa)電(dian)站和(he)用(yong)(yong)戶之間的(de)(de)(de)(de)接(jie)口，它容納了(le)(le)無數(shu)的(de)(de)(de)(de)高壓大電(dian)流設備，以及電(dian)纜，變壓器(qi)，絕緣(yuan)子(zi)等數(shu)百(bai)條。由于過(guo)熱(re)，所有(you)這(zhe)些都是(shi)(shi)(shi)潛在(zai)(zai)的(de)(de)(de)(de)故(gu)障候選者。這(zhe)是(shi)(shi)(shi)由于不正確松(song)動的(de)(de)(de)(de)連接(jie)引起的(de)(de)(de)(de)。由于松(song)動的(de)(de)(de)(de)連接(jie)或有(you)故(gu)障的(de)(de)(de)(de)組件的(de)(de)(de)(de)電(dian)阻加(jia)熱(re)而產生的(de)(de)(de)(de)熱(re)量是(shi)(shi)(shi)組件故(gu)障的(de)(de)(de)(de)先兆，從(cong)而導致發(fa)電(dian)廠和(he)用(yong)(yong)戶的(de)(de)(de)(de)經濟損失(shi)。這(zhe)數(shu)百(bai)個連接(jie)無法(fa)通過(guo)常規方式進(jin)行溫度(du)測量，而且(qie)僅在(zai)(zai)帶電(dian)時才(cai)導致電(dian)阻發(fa)熱(re)，從(cong)而導致設備無法(fa)進(jin)行接(jie)觸式測量。在(zai)(zai)沿(yan)海站點(dian)，紅(hong)(hong)外熱(re)像儀計劃作為(wei)季風(feng)前期的(de)(de)(de)(de)一項(xiang)預防措施(shi)。紅(hong)(hong)外熱(re)像儀活動在(zai)(zai)太(tai)陽(yang)(yang)落山后(hou)的(de)(de)(de)(de)傍晚進(jin)行，這(zhe)樣可以避免(mian)由于太(tai)陽(yang)(yang)反(fan)射而可能造成的(de)(de)(de)(de)錯誤(wu)，并(bing)且(qie)與明亮(liang)的(de)(de)(de)(de)陽(yang)(yang)光相比，還可以提高LCD屏幕(mu)的(de)(de)(de)(de)可見度(du)。在(zai)(zai)風(feng)會引起溫度(du)降低的(de)(de)(de)(de)邊際(ji)情況下，避免(mian)了(le)(le)大風(feng)期以減少誤(wu)差。通過(guo)使(shi)用(yong)(yong)紅(hong)(hong)色調板（而不是(shi)(shi)(shi)鐵調板）可以快速查(cha)明圖(tu)像的(de)(de)(de)(de)最熱(re)點(dian)，從(cong)而改善了(le)(le)分(fen)析效果。對于紅(hong)(hong)外熱(re)像圖(tu)，架空線中的(de)(de)(de)(de)小尺寸跳線連接(jie)，使(shi)用(yong)(yong)7度(du)遠攝鏡(jing)頭（相對于標準24度(du)鏡(jing)頭）進(jin)一步提高了(le)(le)分(fen)辨率是(shi)(shi)(shi)一個很大的(de)(de)(de)(de)優勢。

結論往(wang)往(wang)是在短短的3-4小(xiao)時檢(jian)查時間(jian)內(nei)，可以輕(qing)松找到幾個帶有松動連(lian)接(jie)，電刷(shua)連(lian)接(jie)，絕緣(yuan)子過熱，母(mu)線連(lian)接(jie)，疏水閥等的過熱跳線。隨后對(dui)它們進(jin)行了糾正，并使用紅外(wai)熱像儀再次(ci)驗證了健康狀(zhuang)況(kuang)。

圖為紅外熱像儀

出(chu)于好(hao)奇，研(yan)究者將(jiang)紅(hong)外(wai)熱(re)(re)像儀(yi)帶到(dao)(dao)了IC實驗室(shi)，實驗室(shi)正在開(kai)發芯(xin)片測溫(wen)。快(kuai)速掃(sao)描(miao)是發現(xian)熱(re)(re)量(liang)散發和有可(ke)能改善空間區(qu)域的(de)(de)條件。在不(bu)同的(de)(de)組(zu)件和集成電(dian)(dian)路上觀察(cha)到(dao)(dao)明顯的(de)(de)溫(wen)差。發現(xian)電(dian)(dian)源(yuan)總線，功率晶體管和散熱(re)(re)片過(guo)熱(re)(re)，很(hen)容易確定IC的(de)(de)過(guo)熱(re)(re)，例如存儲芯(xin)片，微(wei)處理器芯(xin)片等(deng)。由于過(guo)熱(re)(re)導致的(de)(de)組(zu)件故障會(hui)導致整個(ge)數據采(cai)集系統(tong)陷入(ru)困境，這(zhe)對操(cao)作工程師來(lai)說是一(yi)(yi)場噩夢。意識(shi)到(dao)(dao)通(tong)過(guo)紅(hong)外(wai)熱(re)(re)像儀(yi)輕(qing)松捕(bu)獲散發的(de)(de)熱(re)(re)量(liang)可(ke)以揭示電(dian)(dian)子設計(ji)中的(de)(de)薄弱環節(jie)，從而對芯(xin)片測溫(wen)，以至于進(jin)一(yi)(yi)步對面板和系統(tong)進(jin)行更詳細(xi)的(de)(de)研(yan)究。